BW-4022A

半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)測(cè)試系統(tǒng)

品牌：博微電通

名稱：半導(dǎo)體直流參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)/分立器件測(cè)試儀/半導(dǎo)體靜態(tài)測(cè)試機(jī)

型號(hào)：BW-4022A

用途：針對(duì)Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度靜態(tài)參數(shù)包括導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù)進(jìn)行較好測(cè)試

BW-4022A產(chǎn)品介紹：BW-4022A 晶體管直流參數(shù)測(cè)試機(jī)是新一代針對(duì)半導(dǎo)體器件測(cè)試系統(tǒng)，經(jīng)過(guò)我公司多次升級(jí)與產(chǎn)品迭代，目前測(cè)試性能、精度、測(cè)試范圍及產(chǎn)品穩(wěn)定度得到大幅提升，成為半導(dǎo)體電子行業(yè)、新能源行業(yè)、封裝測(cè)試、家電行業(yè)、科研教育等領(lǐng)域來(lái)料檢驗(yàn)、研發(fā)分析、產(chǎn)品選型等重要檢測(cè)設(shè)備之一。

BW-4022A 晶體管直流參數(shù)測(cè)試機(jī)大規(guī)模 32 位 ARMMCU 設(shè)計(jì)， PC 中文操作界面，高壓源 2500V：選配1.4KV-- 2KV，高流源500A ：選配 40A、100A、200A、300A及以上。程控軟件基于 Lab VIEW 平臺(tái)， 填充調(diào)用式菜單操作界面，測(cè)試界面簡(jiǎn)潔靈活、人機(jī)界面友好。配合開(kāi)爾文綜合集成測(cè)試插座，只需要根據(jù)不同器件更換測(cè)試座配合系統(tǒng)自適應(yīng)測(cè)試設(shè)置可完成大多數(shù)電子元件的靜態(tài)參數(shù)參數(shù)， 系統(tǒng)內(nèi)部配置因線路、接觸性、及EMC引起的干擾進(jìn)行自動(dòng)補(bǔ)償，確保測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確度；針對(duì)Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度靜態(tài)參數(shù)包括導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)試。

產(chǎn)品電氣參數(shù)：

產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號(hào)：BW-4022A

產(chǎn)品名稱：半導(dǎo)體直流參數(shù)測(cè)試機(jī)

物理規(guī)格

主機(jī)尺寸：深660*寬 430*高 210(mm)

主機(jī)重量：＜28kg

電氣環(huán)境

主機(jī)功耗：＜300W

海拔高度：海拔不超過(guò)4000m

環(huán)境要求：-20℃ ~ 60℃（儲(chǔ)存）、5℃ ~ 50℃（工作）

相對(duì)濕度：20%RH～75%RH (無(wú)凝露 ，濕球溫度計(jì)溫度 45℃以下)

大氣壓力：86Kpa ～106Kpa

防護(hù)條件：無(wú)較大灰塵，腐蝕或爆開(kāi)性氣體，導(dǎo)電粉塵等

電網(wǎng)要求：AC220V、 ±10%、50Hz±1Hz

工作時(shí)間：連續(xù)

服務(wù)領(lǐng)域：

產(chǎn)品特點(diǎn)：

?? 客戶端PC、工控機(jī)均可程控測(cè)試機(jī)進(jìn)行測(cè)試

?? 菜單調(diào)用式測(cè)試程序亦可編輯軟件操作簡(jiǎn)便、人機(jī)界面友好

?? 針對(duì)Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度靜態(tài)參數(shù)測(cè)試

?? 系統(tǒng)基于 Lab VIEW 平臺(tái)開(kāi)發(fā)

?? 自動(dòng)識(shí)別器件極性、 NPN/PNP

?? 16 位 ADC，1M/S 采樣速率

?? 高壓源 2500V：選配1.4KV-- 2KV

?? 高流源500A ：選配 40A、100A、200A、300A及以上

?? 驅(qū)動(dòng)電壓 10mV~40V

?? 控制極電流 10uA~100mA

?? 四線開(kāi)爾文連接確保連接可靠性

?? RS232 串口通信

?? Prober 接口、Handler 接口可選（16Bin）

?? 提供豐富的測(cè)試適配器

?? 切換板采用高速水銀繼電器，測(cè)試效率與可靠性大大提高

?? 可與分選機(jī)、探針臺(tái)、編帶機(jī)等聯(lián)機(jī)測(cè)試