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 370A程控特性曲線圖示儀 370A是的高分辨率特性曲線圖示儀，可應用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場效應管、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示和其它半導體器件的直流參數(shù)特性的測試。 在研發(fā)實驗室，用370A來完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報告這些具體的測試工作。 Tektronix泰克370A晶體管測試儀 附加的功能： 半導體器件的高精度測量 高達 2000 伏或 10 安的電源 高達 220 瓦 1 納安測量分辨率 低至 2 毫伏的測量分辨率 波形比較 信封顯示 波形平均 點光標 開爾文感應測量 完全可編程 3.5 英寸 MS DOS 兼容磁盤存儲，用于保存和調(diào)用設(shè)置 泰克 370A 可編程曲線跟蹤器是一款高分辨率曲線跟蹤器，可在高達 2000 V 或 10 安培、高達 200 瓦、低至 1 納安/2 毫伏測量分辨率的范圍內(nèi)對半導體器件進行高精度測量。它還具有波形比較和平均功能。 詳細說明 TEK370A晶體管測試儀TEK370B主要參數(shù)： ·半導體器件高精度測量 -上限達2000V或電流到10A的源（370A） -上限到3000V（371A） -上限到220W（370A） -上限到400A（371A） -1nA的測量分辨率 -上限到3000W（371A） · 上限到2mV的測量分辨率（370A） 波形對比 ·包絡(luò)顯示 ·波形平均 點光標（370A） ·Kelvin傳感測量 全程控 ·MS-DOS兼容的軟盤，方便設(shè)置參孝存儲和調(diào)用應用手動或自動進行半導體高分辨率DC參數(shù)測量來料檢查生產(chǎn)測試過程監(jiān)視及質(zhì)量控制數(shù)據(jù)報告的生成元件配對失效分析工程測試交互式程控所有交互式程控測量是通過有鮮明特點的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式，調(diào)整和存儲操作參數(shù)，包括370A的非易失存儲器、內(nèi)置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。測試夾具測試夾具是標準附件，它提供被測器件防護，以保護測量人員的。測試夾具適應標準的A1001，中間通過Kelvin傳感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。 370A程控特性曲線圖示儀 370A是的高分辨率特性曲線圖示儀，可應用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場效應管、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示和其它半導體器件的直流參數(shù)特性的測試。在研發(fā)實驗室，用370A來完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報告這些具體的測試工作在制造過程中，用370A檢驗器件質(zhì)量及過程監(jiān)視。 370A可進行來料檢查、器件性能測試、失效分析和器件配對這些測試工作。 

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