使用NanoScan狹縫掃描式激光光束輪廓分析儀

掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測量技術(shù)，通過狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點光電探測器測量強度，再通過掃描狹縫 / 小孔的位置，復原整個光斑的分布。

掃描式光束分析儀的優(yōu)點 :

取樣尺度可以到微米量級，遠小于 CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無需放大；

采用單點探測器，適應紫外 ~ 中遠紅外寬范圍波段；

單點探測器具備很高的動態(tài)范圍，一個探頭可同時適應弱光和強光分析。

掃描式光束分析儀的缺點 : 

多次掃描重構(gòu)光束分布，不適合輸出不穩(wěn)定的激光；

不適合非典型分布的激光，近場光斑有熱斑、有條紋等的狀況。

掃描式光束分析儀與相機式光束分析儀是互補關(guān)系而非替代關(guān)系；在很多應用，如小光斑測量（焦點測量）、紅外高分辨率光束分析等方面，掃描式光束分析儀具備du特的優(yōu)勢。

特點和功能

可測量連續(xù)激光以及大于 1kHz 重頻的脈沖激光·取樣間隔可以調(diào)節(jié)小到 5.7nm，使其能夠極其精確地測量非常小的光斑，

可顯示 2D/3D 光斑形貌

掃描速度可調(diào)諧

16 位數(shù)字化信號采集，35dB 高動態(tài)范圍，20Hz最刷新頻率·支持用戶進行二次開發(fā)，便于集成

探頭可添加功率計選項

硅、鍺和熱釋電探測器可選，測量范圍可覆蓋很寬的光譜范圍和功率級別

不加衰減就可以測量較高功率或焦點處光斑·所有的 NanoScan 的校準都可以朔源 NIST 標準以確保最終的精度·符合國際標準ISO/DIN11146及IS013694。(1989~1996 年P(guān)hoton 公司主持了 ISO/DIN 的工作，制訂出了ISO/DIN11146 標準)

NanoScan?激光光束輪廓分析儀為您提供前所未有的光束測量體驗。狹縫掃描式激光光束輪廓分析儀的優(yōu)點在于測量光束位置和大小時可獲得亞微米精度及NIST可追蹤精度。掃描頭配置包括硅、鍺或熱釋電版本，可用于廣泛的波長和激光功率級范圍。NanoScan軟件可提供兩種版本：標準版和專業(yè)版，并且包括廣泛的ISO定量測量和M2向?qū)?，并能測量激光功率。

NanoScan 2s Si/3.5/1.8  7μm至~2.3mm

NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其硅探測器，精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實時數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測量功能等特征，且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作，非常適合于對UV、VIS和NIR激光進行全面分析。

光束尺寸7μm至~2.3mm

功率級范圍為~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan標準或?qū)I(yè)軟件