完整的生產(chǎn)測(cè)試，無(wú)需犧牲空間

滿(mǎn)足您的所有生產(chǎn)測(cè)試需求，在同一空間內(nèi)有兩條完全隔離的寬動(dòng)態(tài)源和測(cè)量通

道。 每條 40 W 通道提供 6? 位精確分辨率源，在小于 100 μs 脈沖寬度和設(shè)

定值的 0.1% 范圍內(nèi)，測(cè)量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

使用 2600B 簡(jiǎn)化 FET 測(cè)試

特點(diǎn)

在同一空間內(nèi)可有 2 條通道

最寬的電壓和電流動(dòng)態(tài)范圍

高度準(zhǔn)確的 100 μs 脈沖可擴(kuò)展直流生產(chǎn)測(cè)試能力

嵌入式腳本提供無(wú)與倫比的生產(chǎn)吞吐量

測(cè)試腳本處理器 (TSP?) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測(cè)試程序，提供

業(yè)界最  佳性能。

使用 2600B 系列進(jìn)行二極管生產(chǎn)測(cè)試

特點(diǎn)

消除與 PC 之間耗時(shí)的總線(xiàn)通信

高級(jí)數(shù)據(jù)處理和流量控制

通用型探頭/處理程序控制

系統(tǒng)性能，無(wú)主機(jī)

TSP-Link? 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測(cè)試（

而不使用主機(jī)）。 <500 ns 時(shí)所有通道同時(shí)獨(dú)立受控。

使用 Keithley 2600B 系列儀器增加多引腳設(shè)備的生產(chǎn)吞吐量

特點(diǎn)

支持 <500 ns 通道間同步

可達(dá) 32 條或 64 條獨(dú)立 SMU 通道

隨著測(cè)試要求變化輕松重新配置

適合生產(chǎn)的最   佳低電流性能

2635B 和 2636B SMU 在最低 100 pA 范圍內(nèi)提供 0.1 fA、10-16 分辨率，減少

超低電平樣本檢定煩惱，確保生產(chǎn)成功。

特點(diǎn)

在最低電流范圍內(nèi)穩(wěn)定時(shí)間快 7 倍

具有市面上的最  佳低電流分辨率

直接三芯同軸連接簡(jiǎn)化了設(shè)置