AQ6317B是一款高級(jí)光譜分析儀，適用于各種應(yīng)用，包括光源評(píng)估，光學(xué)設(shè)備中

損耗波長特性的測量以及WDM（波分復(fù)用）系統(tǒng)的波形分析。
特別是在C波段和L波段，該裝置可實(shí)現(xiàn)較高的波長精度和波長線性度，并可評(píng)估

用于WDM的光學(xué)設(shè)備。分析功能使操作和擴(kuò)展性變得簡單。


規(guī)格：

波長范圍：600至1750 nm
動(dòng)態(tài)范圍：60 dB（1523nm，峰值0.2nm，分辨率：0.01nm）
波長精度：0.5 nm（600至1750nm）
波長線性度：0.01nm（1520至1580nm）
波長重復(fù)性：0.005 nm（1分鐘）
偏振相關(guān)性：0.05 dB（1550 / 1600nm），典型值0.05 dB （1310納米）
附加信息

波長分辨率：分辨率設(shè)置：0.01、0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1.0、2.0nm
分辨率精度：5％
電平精度：0.3 dB
電平線性度：0.05 dB
掃描時(shí)間：約 500毫秒

The AQ6317B is an advanced optical spectrum analyzer for a wide range

of applications, including light source evaluation, measurement of

loss wavelength characteristics in optical devices, and waveform

analysis of WDM (Wavelength Division Multiplexing) systems.

Especially at C-band and L-band, the unit achieves high wavelength

accuracy and wavelength linearity, and can evaluate optical devices

for WDM. Analysis functions make operation and expandability simple.



Specifications:

Wavelength Range: 600 to 1750 nm
Dynamic Range: 60 dB (1523nm, peak 0.2nm, resolution: 0.01nm)
Wavelength Accuracy: 0.5 nm (600 to 1750nm)
Wavelength Linearity: 0.01nm (1520 to 1580nm)
Wavelength Repeatability: 0.005 nm (1 min)
Polarization Dependency: 0.05 dB (1550/1600nm), 0.05 dB typ. (1310nm)


Additional Information

Wavelength Resolution: Resolution setting: 0.01, 0.02, 0.05, 0.1, 0.2,

0.5, 1.0, 2.0nm
Resolution Accuracy: 5 %
Level Accuracy: 0.3 dB
Level Linearity: 0.05 dB
Sweep Time: Approx. 500 ms