NOISEKEN半導(dǎo)體器件靜電放電模擬器ESS-6008針對于半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)的靜電放電模擬器，電壓大8000V測試電壓，小電壓輸出10V，可應(yīng)用于企業(yè)的研發(fā)和品質(zhì)上，適用于敏感產(chǎn)品的評價(jià)試驗(yàn)。

主要技術(shù)參數(shù)

●輸出電壓：10～8000V±10％，10V步進(jìn)

●輸出極性：正或負(fù)

●重復(fù)周期：0.3～99s±10％

●放電次數(shù)：1～99次/連續(xù)

●外部觸發(fā)輸入：±15V，BNC接口

●觸發(fā)輸出：輸出阻抗50Ω，TTL高脈沖5ms，BNC接頭

●探針臺(tái)控制：和探針臺(tái)選件，型號(hào)：18-00076A連接后控制，Dsub接頭

●ITERLOCK：端口臺(tái)、端口間開路時(shí)試驗(yàn)停止（出貨時(shí)標(biāo)配短路棒）

●驅(qū)動(dòng)電源：AC100～240±10％ 50Hz/60Hz

●功耗：25VA

●尺寸：（W）340×(H)×199×（D）300mm（不含突起部分）

●重量：約6kg

機(jī)械模型試驗(yàn) (MM)符合規(guī)范

●AEC-Q100-003-REV -E Jul.2003

●ESDA ANSI/ ESD STM5.2-1999

●IEC61340-3-2 Ed.1.0-2002

●IEC60749-27 Ed.1.0 2003

●JEDEC JESD22- A115A Oct.1997

●JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Reference Test Method



人體模型試驗(yàn) (HBM)規(guī)范

●AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003

●ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001

●IEC61340-3-1Ed.1.0 2002

●IEC60749-26 Ed.1.0 2003

●JEDEC JESD22- A114E Jan.2007

●JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304

●MIL-STD-883F 3015.7 Mar.1989



主要特征


●可做高輸出電壓±8KV 試驗(yàn)（ESS-6008）


●可做出留有余量的試驗(yàn)


●可對各種間距的受測元件進(jìn)行靜電施加試驗(yàn)


●可搭配精密測臺(tái)，以半自動(dòng)（Y 軸）的腳位移動(dòng)而正確的對待


●測物施加靜電


●可做低試驗(yàn)電壓±10V 的試驗(yàn)（ESS-6002）


●對于低電壓驅(qū)動(dòng)元件的評價(jià)可從10V 開始以1V 的步長予施加