安捷倫4287A射頻LCR測試儀/HP4287A阻抗分析儀·1MHz～3GHz，用于測量電子元件的電感 (L)、電容 (C) 和電阻 (R)。LCR 儀表可準確測量電子設(shè)備上的這些元素，通常是使用交流 (AC) 電壓源的電子設(shè)備。以100KHz分檔·阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3KΩ·在低測度信號電平上具有優(yōu)良的測量重復性·基本精度為1%·高速測量9ms


Agilent 4287A附加的功能：
1 MHz 至 3 GHz，步長為 100 kHz
從 200 m ohm 到 3 k ohm 的寬阻抗測量范圍
在低測試信號電平下具有出色的測量重復性 1% 基本精度
高速測量：9 ms

Agilent4287A射頻LCR測試儀/HP4287A阻抗分析儀

8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內(nèi)置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試

質(zhì)量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統(tǒng)一進行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7 SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7

生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠
4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量非?？臁４送?，在小測試電流(100μA)處優(yōu)良的測試重復性還可以提高生產(chǎn)率，因為所需的取平均過程非常短。


系統(tǒng)組建簡單
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。