吉時(shí)利4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)

簡 述：

4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)是用于器件、材料和半導(dǎo)體工藝參數(shù)分析的完整解決方案。這種先進(jìn)的參數(shù)分析儀具有無可比擬的測(cè)量靈敏度和精度，同時(shí)繼承了嵌入式Windows操作系統(tǒng)和吉時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境，為半導(dǎo)體科研及產(chǎn)業(yè)用戶進(jìn)行半導(dǎo)體器件特性分析提供了直觀而高級(jí)的功能

特征：

• 運(yùn)行 Clarius SWon Win7 嵌入式計(jì)算機(jī)的直觀、觸摸屏界面。獨(dú)特的可選遠(yuǎn)程前置放大器將 SMU 的分辨率擴(kuò)展至 10 aACV 儀器使 CV 測(cè)量像 DC IV 一樣簡單用于高級(jí)半導(dǎo)體測(cè)試的脈沖和脈沖 IV 功能示波器卡提供集成的示波器和脈沖測(cè)量功能獨(dú)立的 PC 提供快速的測(cè)試設(shè)置、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、圖形和打印以及測(cè)試結(jié)果的板載大容量存儲(chǔ)。配備嵌入式測(cè)量專業(yè)知識(shí)和數(shù)百個(gè)即用型應(yīng)用測(cè)試，用于點(diǎn)擊式可靠性測(cè)試的內(nèi)置壓力/測(cè)量、循環(huán)和數(shù)據(jù)分析，包括五個(gè)符合 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)的樣品測(cè)試集成支持各種 LCR 儀表、Keithley 開關(guān)矩陣配置以及 Keithley 3400 系列和 Agilent 81110 脈沖發(fā)生器包括用于領(lǐng)先分析探針的軟件驅(qū)動(dòng)程序

吉時(shí)利 4200A-SCS 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀表征系統(tǒng)執(zhí)行實(shí)驗(yàn)室級(jí) DC 和脈沖器件表征、實(shí)時(shí)繪圖和分析，具有高精度和亞 fem 到安培的分辨率。Keithley 4200A-SCS 提供同步電流-電壓 (IV)、電容-電壓 (CV) 和超快脈沖 IV 測(cè)量。

本公司回收以下品牌各類儀器：

NI (美國國家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時(shí)利）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達(dá)）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛德萬）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計(jì)) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、ITECH(艾德克斯)、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達(dá)）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測(cè)）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛斯福）、GWINSTEK （固緯）