韓國(guó)興倉(cāng)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 Protek A333

頻率范圍300kHz到3.2GHz頻率分辨率1mHzIF帶寬設(shè)置1Hz到30kHz

功率范圍-45dBm到+10dBm功率精度±1.0dB顯示10.4英寸TFT彩色液晶(800x600)觸摸屏

用戶界面USB2.0,以太網(wǎng),鍵盤(pán),鼠標(biāo),打印機(jī),視頻

技術(shù)規(guī)格

測(cè)量參數(shù)---------------- S11,S21,S12,S22
測(cè)量通道數(shù)量---------到16個(gè)獨(dú)立的邏輯通道，一個(gè)邏輯通道被定義為某一激勵(lì)信號(hào)設(shè)置，

如頻率范圍測(cè)試點(diǎn)數(shù)，功率等每個(gè)邏輯通道中屏幕上作為獨(dú)立的通道窗口顯示
數(shù)據(jù)跟蹤---------------到16個(gè)數(shù)據(jù)跡線顯示在各自的通道窗口上，一個(gè)數(shù)據(jù)跡線顯示被測(cè)器件

的某一參數(shù)如S參數(shù)，時(shí)域響應(yīng)，輸入功率響應(yīng)
存儲(chǔ)跟蹤--------------- 6個(gè)數(shù)據(jù)跡線的每一個(gè)都能將當(dāng)前值保存到存儲(chǔ)器用于比較
數(shù)據(jù)顯示格式---------對(duì)數(shù)幅值到16個(gè)標(biāo)記，對(duì)增量標(biāo)記操作可應(yīng)用參考標(biāo)記

史密斯圓圖支持5種標(biāo)記格式：線形幅值/相位，對(duì)數(shù)幅值/相位，實(shí)部/虛部，

R+jx和G+jB極坐標(biāo)支持3種標(biāo)記格式：線性幅值/相位，對(duì)數(shù)幅值/相位，

實(shí)部/虛部
掃描特性
掃描測(cè)量點(diǎn)數(shù)---------用戶自行設(shè)置2到10001
掃描類(lèi)型---------------當(dāng)激勵(lì)功率為固定值時(shí)：線性掃描，對(duì)數(shù)掃描，分段掃描

當(dāng)頻率為固定值時(shí)：線性功率掃描
分段掃描特性---------在幾個(gè)獨(dú)立的用戶定義的分段內(nèi)頻率掃描，應(yīng)為每個(gè)分段設(shè)置頻率范圍，

掃描點(diǎn)數(shù)，源功率和IF帶寬
功率----------------------源功率-45dBm到+10dBm精度0.05dB,在頻率掃描模式中功率斜率可設(shè)置到

2dB/GHz去補(bǔ)償連接線中高頻衰減
掃描觸發(fā)---------------觸發(fā)模式：連續(xù)，單次，保持，觸發(fā)源：內(nèi)部，手動(dòng)，外部

跡線功能
跡線顯示---------------;數(shù)據(jù)跡線，存儲(chǔ)器跡線或數(shù)據(jù)和存儲(chǔ)器跡線同時(shí)顯示
跡線數(shù)學(xué)---------------通過(guò)數(shù)學(xué)運(yùn)算更改數(shù)據(jù)跡線：對(duì)被測(cè)復(fù)雜值和存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)進(jìn)行加，減，乘，除
自動(dòng)刻度---------------自動(dòng)選擇刻度和基準(zhǔn)值具有最有效的顯示跡線
電延遲------------------在低損耗測(cè)試設(shè)置中，將校準(zhǔn)面移動(dòng)，對(duì)延遲補(bǔ)償

被測(cè)器件線性相位的偏離測(cè)量時(shí)的電延遲補(bǔ)償
相位偏移--------------相位偏移指定度數(shù)
統(tǒng)計(jì)--------------------計(jì)算和顯示數(shù)據(jù)跡線的平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，峰-峰偏差

其他特性
圖形用戶界面--------基于Windows操作系統(tǒng)的用戶界面
分析儀控制-----------保證了用戶快捷和容易的一起使用
使用個(gè)人電腦
圖標(biāo)打印/存儲(chǔ)-------圖標(biāo)和數(shù)據(jù)打印具有預(yù)覽功能預(yù)覽，存儲(chǔ)和打印可通過(guò)MS Work,

Windows圖像瀏覽器或分析儀打印向?qū)?lái)完成
編程功能-------------- COM/DCOM自動(dòng)控制

精度提高
校準(zhǔn)------------------測(cè)試設(shè)置的校準(zhǔn)(包括儀器，連接線，轉(zhuǎn)換器)顯著地增加測(cè)量的精度校準(zhǔn)

允許對(duì)測(cè)量系統(tǒng)的不完整性引起的誤差進(jìn)行校正：系統(tǒng)的定向、輸出源和負(fù)載

匹配，跟蹤和隔離
校準(zhǔn)方法------------可以采用多種混合校準(zhǔn)方法來(lái)提高精度水平其中最精確的是全一端口校準(zhǔn)和

全二端口校準(zhǔn)
反射和傳輸標(biāo)準(zhǔn)化---對(duì)反射和傳輸測(cè)量的頻響誤差的幅度和相位校正
全一端口校準(zhǔn)---------頻響的幅度和相位校正，對(duì)一端口反射測(cè)量定向和輸出源匹配誤差校正
單路二端口校準(zhǔn)------進(jìn)行反射和單路傳輸測(cè)量，類(lèi)似于一端口反射測(cè)量頻響的幅度和相位校正，

對(duì)反射測(cè)量的輸出源匹配誤差校正
全二端口校準(zhǔn)--------進(jìn)行被測(cè)器件的全部的S參數(shù)矩陣測(cè)量，對(duì)反射和傳輸測(cè)量的頻響的幅度和

相位校正定向和輸出源匹配和負(fù)載匹配和隔離，隔離校準(zhǔn)可省略
定向校準(zhǔn)(可選)-------定向校正附加到反射校正
隔離校準(zhǔn)(可選)-------隔離校正附加到傳輸校正，全二端口校準(zhǔn)中的單路二端口校準(zhǔn)
糾錯(cuò)插補(bǔ)--------------當(dāng)使用者改變?cè)O(shè)置，如開(kāi)始/停止頻率和掃描點(diǎn)數(shù)，與校準(zhǔn)時(shí)的設(shè)置進(jìn)行比較，

插補(bǔ)或校準(zhǔn)推定被實(shí)行
端口阻抗轉(zhuǎn)換--------在50歐端口測(cè)量的S參數(shù)能轉(zhuǎn)換為在任意阻抗的測(cè)試端口被測(cè)定的值
去嵌入------------------此功能允許將連接校準(zhǔn)面和被測(cè)器件的夾具回路的作用從測(cè)量結(jié)果中算術(shù)地

除去，此回路通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)文件里的S參數(shù)矩陣來(lái)描述
嵌入-------------------此功能允許將校準(zhǔn)面和被測(cè)器件的夾具回路虛擬集成后，算術(shù)地模擬被測(cè)器件

參數(shù)此回路通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)文件里的S參數(shù)矩陣來(lái)描述
S參數(shù)轉(zhuǎn)換------------此功能允許測(cè)量的S參數(shù)轉(zhuǎn)換為如下參數(shù)：反射阻抗，導(dǎo)納，傳輸阻抗和導(dǎo)納，

S參數(shù)的倒轉(zhuǎn)
時(shí)域變換--------------使用Chip Z轉(zhuǎn)換將測(cè)量數(shù)據(jù)從頻域轉(zhuǎn)換為時(shí)域轉(zhuǎn)換類(lèi)型：帶通，低通沖擊，

低通步進(jìn)可進(jìn)行窗口轉(zhuǎn)換：最小，正常，
選通------------------選通濾波器類(lèi)型：帶通和陷波選通窗口：寬屏，正常，最小